probe card介紹

Probe Card

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A probe card is a jig used for electrical testing of an LSI (large-scale integrated circuit) chip on a wafer during the wafer test process in LSI manufacturing.

微探針的分析、設計與製造

https://ir.nctu.edu.tw

Probe card is very important equipment in IC test. It connected the Prober ... 2.2 ANSYS 軟體簡介……………...................................................5.

探針卡

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探針卡接觸探針的觀察、量測

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探針卡是在LSI製造的前製程中用於矽晶圓檢查製程的檢查器具，圓形的印刷電路板上裝備了一組經過精密組裝的探針接腳（探針）。 進行電氣測試時，會將這些配置於印刷電路板上 ...

新型探針卡技術介紹

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Epoxy Ring Probe Card、半自動焊接之MicroSpring Probe Card所面對之技術瓶. 頸，以及介紹積體化探針卡(Integrated Probe Card)目前發展現況，並與現有技術作. 一比較 ...

積體化探針卡技術介紹

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探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，是積體電路製造中對製造成本影響 ...

積體化探針卡技術介紹

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這類探針卡目前製造技術最先進是日本MJC，其最小間距可達35(m，如(圖五)所示。然這類Epoxy ring probe card雖具有製造時間短、少量、多樣及彈性製造等優勢，但仍有一些基本 ...